IC Substrates (5 micron까지)
자동광학검사(AOI)
오보텍 기술은 고객사의 제품과 전체적인 PCB 제조공정의 품질을 보장합니다. 오보텍의 현장에서 입증된 광범위한 검사 및 검증 AOI 기술은 결함을 검출 및 분류하는 진보된 광학장치, 알고리즘 및 데이터처리 능력을 이용하며, 최고 난이도의 제품까지도 검사 가능한 솔루션을 제공합니다.
오보텍의 솔루션은 다음과 같습니다:
- 고부가가치/고사양 제품에 적합한 QTA 및 샘플링 대응
- Advanced PCB 및 HDI제품,양산 제품용, 전범위 AOI 필요제품.
- IC Substrate 애플리케이션용 첨단 솔루션: BGA/CSP, FC-BGA, Advanced PBGA/CSP 및 COF
- Yellow Room AOI 제품: Photo Tool, 마스크 및 아트워크
오보텍의 혁신적인 기술은 어떤 PCB든지 그에 존재하는 미크론 크기의 가장 작은 결함을 검출하고 검증함에 있어 타의 추종을 불허하는 자동화되고 지능적이며 강력한(Simple, Intelligent and Powerful, SIP) AOI 성능을 제공합니다.
IC Substrates (≥7-25µm) PCB (25-50+ µm)
Photo Tools
AOI for Touch Sensors
Fan out (metal) lines in touch sensors are produced by a simple analog process which results in a high defect rate. To increase production yields and improve profitability, Orbotech offers...
