IC 基板 (低至 5 微米)
自动光学检测
低成本/高阶产品，满足 QTA 和取样产品的需要
我们的技术优势可以为您的产品质量提供保证，适用于整个生产流程。奥宝的 AOI 技术具备先进的光学、演算和数据处理能力，可对缺陷进行检测和归类。奥宝的 AOI 技术用于检测和检验，内容广泛，并已成功开发出了各种解决方案，经实际验证可以应对最为复杂的挑战。
奥宝解决方案包括：
- 低成本/高阶产品，满足 QTA 和取样产品的需要
- AOI 产品和系统适应面广，设计用于大中型、先进的 PCB 和 HDI 产品
- 先进的 IC 基板应用解决方案：BGA/CSP、FC-BGA、 先进的 PBGA/CSP 和 COF
- 黄光室 AOI 产品：底片、 光罩等检测
我们的创新性技术十分先进，可以保证提供简单、智慧、强大 (SIP) 的AOI 性能，其检测和检验功能无与伦比，可以检测出任何 PCB 上任何微小缺点及检修。
奥宝用于IC基板(7-25µm及以上)的自动光学解决方案验证了SIP技术的新水平，即完成最大的产量，最高的侦测度同时保证最少的误测。
AOI for Touch Sensors
Fan out (metal) lines in touch sensors are produced by a simple analog process which results in a high defect rate. To increase production yields and improve profitability, Orbotech offers...
