IC サブストレート基板(最小 5μm)
光学式自動外観検査装置（AOI）
革新的な先進技術が、インテリジェント機能を備えたシンプルかつ強力な機能を提供します。
オルボテックの最先端技術が、製品とエレクトロニクス製造工程全体の品質を保証します。先進的な光学技術、アルゴリズム、データ処理機能を使用し、欠陥を検出して分類します。製造現場で実証されたオルボテックの検査および確認のための広範なAOI技術が、極めて複雑な課題にも対応可能なさまざまなソリューションを提供します。
オルボテックのソリューションには以下のようなものがあります。
- QTAおよびサンプリング生産のニーズに適したコスト効果の高いハイエンド製品
- 先進的PCBおよびHDIの中量ないし大量生産用に設計された広範なAOI製品およびシステム
- IC基板アプリケーション用の最先端ソリューション：BGA/CSP、FC-BGA、最先端PBGA/CSP、COF
- イエロールームAOI製品：フォトツール、マスク、アートワーク
オルボテックの革新的かつ先進的な技術が、インテリジェント機能を備えたシンプルかつ強力な（Simple, Intelligent and Powerful：SIP）AOI能力を提供します。この比類のないAOI能力は、あらゆるサイズとタイプのPCBにおける極めて微細な欠陥でも、検出して確認することができます。
AOI for Touch Sensors
Fan out (metal) lines in touch sensors are produced by a simple analog process which results in a high defect rate. To increase production yields and improve profitability, Orbotech offers...
